홈 >
(천안캠)고분해능 주사전자현미경 Ⅲ (MIRA4)(Field Emission Scanning Electron Microscope(FE-SEM))
신청가능
물리화학분석장비
천안캠퍼스
- 분석연구원
- 한선아 / 041-521-9539
- 설치장소
- 천안 6공학관 106호
- 모델명
- MIRA LMS
- 제조사
- TESCAN
- 제조국
- 체코
분석료
* 담당자가 여러 장비를 운영하고 있기 때문에 반드시 전화 상담 및 일정 확인 후 예약하시기 바랍니다.
(실제 예약 일정과 온라인 상 예약 현황이 다를 수 있고, 사전상담 없이 잘못 선택된 장비 의뢰는 반려 처리됩니다.)
* 문의사항 : somber@kongju.ac.kr
* 예약 후 불참하시거나, 당일 취소하시는 경우 예약시간 청구되오니 시간 엄수해주시기 바랍니다.
[교내]
- SEM : 60,000원/시간
- EDS : 60,000원/시간+10,000원/시료
- Coating (Pt) : 20,000원/회
[외부]
- SEM : 100,000원/시간
- EDS : 100,000원/시간+10,000원/시료
- Coating (Pt) : 20,000원/회
(실제 예약 일정과 온라인 상 예약 현황이 다를 수 있고, 사전상담 없이 잘못 선택된 장비 의뢰는 반려 처리됩니다.)
* 문의사항 : somber@kongju.ac.kr
* 예약 후 불참하시거나, 당일 취소하시는 경우 예약시간 청구되오니 시간 엄수해주시기 바랍니다.
[교내]
- SEM : 60,000원/시간
- EDS : 60,000원/시간+10,000원/시료
- Coating (Pt) : 20,000원/회
[외부]
- SEM : 100,000원/시간
- EDS : 100,000원/시간+10,000원/시료
- Coating (Pt) : 20,000원/회
원리 및 특징
가속된 전자빔을 이용하여 표면관찰을 하거나 성분 분석기 장착을 통하여 미세조직 및 지역 성분분석이 할 수 있는 장비입니다.
건조상태의 모든 재료의 이미지 관찰이 가능하고, 주기율표 상의 원소(Be~U)가 성분 분석기 검출한계(>0.5wt%) 이상 포함되어 있을 경우 단원소 형태로 검출할 수 있습니다.
건조상태의 모든 재료의 이미지 관찰이 가능하고, 주기율표 상의 원소(Be~U)가 성분 분석기 검출한계(>0.5wt%) 이상 포함되어 있을 경우 단원소 형태로 검출할 수 있습니다.
응용분야
생물, 화학, 물리, 재료 등..
규격
[SEM 사양]
1. Model : MIRA LMS
2. 분해능 : 3.0nm @1kV(SE) , 1.0nm @30kV(SE), 0.5nm @30kV(In-beam)
3. 가속전압 범위 : 0.5kV ~ 30kV
4. 배율 : ×25 ~ ×1,000,000
5. 전자총 : Schottky field emitter
6. 가능한 분석 : SE, BSE, EDS
[EDS 사양]
1. 모델: QUANTAX Xflash6
2. 제작사: BRUKER
3. 제조국: 독일
4. Active area: 60mm2
5. Detector: Si Drift Detector (SDD)
6. Resolution: 129 eV at Mn Ka
7. 분석 가능 원소: B ~ Am
1. Model : MIRA LMS
2. 분해능 : 3.0nm @1kV(SE) , 1.0nm @30kV(SE), 0.5nm @30kV(In-beam)
3. 가속전압 범위 : 0.5kV ~ 30kV
4. 배율 : ×25 ~ ×1,000,000
5. 전자총 : Schottky field emitter
6. 가능한 분석 : SE, BSE, EDS
[EDS 사양]
1. 모델: QUANTAX Xflash6
2. 제작사: BRUKER
3. 제조국: 독일
4. Active area: 60mm2
5. Detector: Si Drift Detector (SDD)
6. Resolution: 129 eV at Mn Ka
7. 분석 가능 원소: B ~ Am