* 연구원과 일정 확인 후 기기 예약 요망.
 (1일 분석시간: 09:30~17:00)

* 1일 전까지 취소 연락이 없이 불참하시는 경우 예약시간 청구되니 주의 요망.

[시료크기준수]
80x80x1~5mm-의뢰자 직접준비

1. 시료의 Voltage Source Level 필요
2. 표면저항률 및 체적저항률 측정 가능

- 교내 : 5,000원/시료
 (외부수가 50% 할인)
- 외부 : 10,000원/시료
  (기본 3회 측정)

물질의 전기적인 성질은 기본은 전기저항이며, 이런 저항은 기본적으로 물질과 전원장치를 연결하고 일정 전압을 가한 후 결과적으로 흐르는 전류의 양을 측정해서 구하는 방법.

- 표면저항 값은 Wafer, LCD, 태양전지, 연료전지, OLED 등의 벌크 및 박막의 전도성을 검사하기 위함
- Si Wafer 또는 금속박막의 면저항, 비저항 측정

1. Model : 8340A
2. High-resolution and wide-range measurement
  - Current: 10fA - 19.999mA
  - Resistance: 10Ω - 3 x 1016Ω
3. High-speed electric charge-discharge
4. High-speed measurement with 100 samples/sec
5. Voltage source from 0V to 1000.0V
6. Floating measurement of 1100VDC
7. GPIB Interface