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엑스선형광분석기(XRF-WDX)(X-ray Fluorescence Spectrometer)
신청가능
물리화학분석장비
공주캠퍼스
- 분석연구원
- 최영아 / 041-850-8882
- 설치장소
- 산학연구관 103호
- 모델명
- ZSX Primus
- 제조사
- Rigaku
- 제조국
- 일본
분석료
교내: 20,000원/회
타교: 25,000원/회
외부: 30,000원/회
타교: 25,000원/회
외부: 30,000원/회
원리 및 특징
원리:
엑스선의 파장과 강도를 이용하여 미지 시료에 대한 정성 및 정량 분석(5B~92U)
파장분산형(WDX)으로 원소 F부터 측정가능
비파괴적이며 신속한 측정가능
엑스선의 파장과 강도를 이용하여 미지 시료에 대한 정성 및 정량 분석(5B~92U)
파장분산형(WDX)으로 원소 F부터 측정가능
비파괴적이며 신속한 측정가능
응용분야
1. 물리, 화학, 생물, 나노신소재, 반도체, 환경 시료의 화학조성 정량, 정성 분석에 이용
2. 탄소 성분조성도 가능하여 금속분야에 많은 이용도가 기대된다.
2. 탄소 성분조성도 가능하여 금속분야에 많은 이용도가 기대된다.
규격
Primus