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기타장비

이온 밀링 시스템 기자재 정보
기자재명 이온 밀링 시스템 (Ion Milling System)
사진 이온 밀링 시스템 사진
모델명 IM4000PLUS
분류 물리화학분석장비
제조국 JAPAN
제조사 HITACHI
캠퍼스 천안캠퍼스
설치장소 6공학관 107-1호
상태 신청가능
분석료 *  여러 장비 담당으로 반드시 연구원과 전화상담 및 일정 확인 후 기기 예약 요망.
    (예약현황과 다를 수 있음)
*  분석 상담 및 문의내용 : somber@kongju.ac.kr
*  사전상담없이 기기 잘못 선택된 의뢰는 반려 처리되오니 양해바랍니다.

  - 교내 : 80,000원/시간(액체질소사용 시 20,000원 추가)
  - 교외 : 150,000원/시간(액체질소사용 시 20,000원 추가)
원리 및 특징 전자현미경 관찰용 시료의 단면 및 평면을 Ar ion beam을 이용하여 매끄럽게 가공함으로서, 보다 선명하게 관찰할 수 있는 장비이다.
응용분야 시료의 단면가공 및 EBSD 전처리
규격 1. Accelerating voltage : 0.1 to 6kV or wider
2. Ion beam diameter : Max. 500㎛ or more
3. Milling rate
  - Flat : 2㎛/hr or faster
  - Cross-section : 500㎛/hr at 6kV or faster
4. Sample size for cross-section milling : 10㎜W x 10㎜D x 4㎜H or larger
5. Sample size for flat milling : 25㎜Φ x 15㎜H or lager
6. Cooling temperature control unit

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