기타장비
기자재명 | 이온 밀링 시스템 (Ion Milling System) |
---|---|
사진 | |
모델명 | IM4000PLUS |
분류 | 물리화학분석장비 |
제조국 | JAPAN |
제조사 | HITACHI |
캠퍼스 | 천안캠퍼스 |
설치장소 | 6공학관 107-1호 |
상태 | 신청가능 |
분석료 | * 여러 장비 담당으로 반드시 연구원과 전화상담 및 일정 확인 후 기기 예약 요망. (예약현황과 다를 수 있음) * 분석 상담 및 문의내용 : somber@kongju.ac.kr * 사전상담없이 기기 잘못 선택된 의뢰는 반려 처리되오니 양해바랍니다. - 교내 : 80,000원/시간(액체질소사용 시 20,000원 추가) - 교외 : 150,000원/시간(액체질소사용 시 20,000원 추가) |
원리 및 특징 | 전자현미경 관찰용 시료의 단면 및 평면을 Ar ion beam을 이용하여 매끄럽게 가공함으로서, 보다 선명하게 관찰할 수 있는 장비이다. |
응용분야 | 시료의 단면가공 및 EBSD 전처리 |
규격 | 1. Accelerating voltage : 0.1 to 6kV or wider 2. Ion beam diameter : Max. 500㎛ or more 3. Milling rate - Flat : 2㎛/hr or faster - Cross-section : 500㎛/hr at 6kV or faster 4. Sample size for cross-section milling : 10㎜W x 10㎜D x 4㎜H or larger 5. Sample size for flat milling : 25㎜Φ x 15㎜H or lager 6. Cooling temperature control unit |