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기자재명 | 엑스선형광분석기(XRF-WDX) (X-ray Fluorescence Spectrometer) |
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사진 | |
모델명 | ZSX Primus |
분류 | 물리화학분석장비 |
제조국 | 일본 |
제조사 | Rigaku |
캠퍼스 | 공주캠퍼스 |
설치장소 | 산학연구관 103호 |
상태 | 신청가능 |
분석료 | 교내: 20,000원/회 타교: 25,000원/회 외부: 30,000원/회 |
원리 및 특징 | 원리: 엑스선의 파장과 강도를 이용하여 미지 시료에 대한 정성 및 정량 분석(5B~92U) 파장분산형(WDX)으로 원소 F부터 측정가능 비파괴적이며 신속한 측정가능 |
응용분야 | 1. 물리, 화학, 생물, 나노신소재, 반도체, 환경 시료의 화학조성 정량, 정성 분석에 이용 2. 탄소 성분조성도 가능하여 금속분야에 많은 이용도가 기대된다. |
규격 | Primus |