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기타장비

표면저항 측정기(4 point probe) 기자재 정보
기자재명 표면저항 측정기(4 point probe) (sheet resistance measurement system with 4 point probe)
사진 표면저항 측정기(4 point probe) 사진
모델명 CMT-100MP
분류 물리화학분석장비
제조국 Korea
제조사 ㈜에이아이티
캠퍼스 천안캠퍼스
설치장소 6공학관 213호
상태 신청가능
분석료 * 연구원과 일정 확인 후 기기 예약 요망.
* 1일 전까지 취소 연락이 없이 불참하시는 경우 예약시간 청구되니 주의 요망.

* 최소 시료 2.2cmX2.2cm
  두께 0.5cm 이하
  최대 220 x 220 mm

- 교내 : 5,000원/시료
 (외부수가 50% 할인)
- 외부 : 10,000원/시료
  (기본 3회 측정)
원리 및 특징 4 point probe를 이용하여 2 pole은 전극을 나머지 2 pole은 저항을 측정하는 원리로 작동
응용분야 도체 및 반도체 면저항 측정
측정범위: 1 mohm/sq ~ 2 Mohm/sq
규격 - 측정범위: 1 mohm/sq ~ 2 Mohm/sq
- 측정단위: ohm, ohm/sq, ohm. cm & S(두께 입력)
- 테스트 몸체와 프로브 지지대 분리형
- 측정 시료 크기: 최대 220 x 220 mm (항시 중앙 1점 측정)
- JANDEL 4-포이트 프로브 헤드(A~G 형 중 선택 가능)
- 자동/ 수동 및 싱글/듀얼 선택 가능
- 온도보정용 온도센서 내장
- 중앙 1점 레버 다운식의 수동 또는 자동 접촉시스템
- Contact load(압력) 유지 기능

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