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(천안캠)고분해능 주사전자현미경 (FE-SEM)(Field Emission Scanning Electron Microscope)
신청가능
물리화학분석장비
천안캠퍼스
- 분석연구원
- 한선아 / 041-521-9539
- 설치장소
- 천안 6공학관 102호
- 모델명
- MIRA LMH
- 제조사
- TESCAN
- 제조국
- 체코
분석료
* 여러 장비 담당으로 반드시 연구원과 전화상담 및 일정 확인 후 기기 예약 요망.
(예약현황과 다를 수 있음)
* 문의사항 : somber@kongju.ac.kr
* 1일 전까지 취소 연락이 없이 불참하시는 경우 예약시간 청구되니 주의 요망.
[교내 ]
- SEM : 45,000원/시간
- EDS : 45,000원/시간+10,000원/시료
- Coating (Pt, Au) : 10,000원/회
- Coating (Os) : 20,000원/회
[교외]
- SEM : 80,000원/시간
- EDS : 80,000원/시간+10,000원/시료
- Coating (Pt/Cr) : 10,000원/회
- Coating (Os) : 20,000원/회
(예약현황과 다를 수 있음)
* 문의사항 : somber@kongju.ac.kr
* 1일 전까지 취소 연락이 없이 불참하시는 경우 예약시간 청구되니 주의 요망.
[교내 ]
- SEM : 45,000원/시간
- EDS : 45,000원/시간+10,000원/시료
- Coating (Pt, Au) : 10,000원/회
- Coating (Os) : 20,000원/회
[교외]
- SEM : 80,000원/시간
- EDS : 80,000원/시간+10,000원/시료
- Coating (Pt/Cr) : 10,000원/회
- Coating (Os) : 20,000원/회
원리 및 특징
가속된 전자빔을 이용하여 표면관찰을 하거나 성분 분석기 장착을 통하여 미세조직 및 지역 성분분석이 할 수 있는 장비입니다.
건조상태의 모든 재료의 이미지 관찰이 가능하고, 주기율표 상의 원소(Be~U)가 성분 분석기 검출한계(>0.5wt%) 이상 포함되어 있을 경우 단원소 형태로 검출할 수 있습니다.
건조상태의 모든 재료의 이미지 관찰이 가능하고, 주기율표 상의 원소(Be~U)가 성분 분석기 검출한계(>0.5wt%) 이상 포함되어 있을 경우 단원소 형태로 검출할 수 있습니다.
응용분야
생물, 화학, 물리, 재료 등..
규격
1. 모델 : MIRA LMH
2. 제작사 : TESCAN
3. Gun type : Schottky Emitter
4. 분해능 : 1nm at 30kV
5. 배율 : X12 ~ X1,000,000
6. 가속전압 : 500V ~ 30kV
7. 디텍터 : SED, BSED, EDS
- EDS : BRUKER (Model : X-flash4010, Resolution : 125eV, SDD type)
- BSD : YAG
2. 제작사 : TESCAN
3. Gun type : Schottky Emitter
4. 분해능 : 1nm at 30kV
5. 배율 : X12 ~ X1,000,000
6. 가속전압 : 500V ~ 30kV
7. 디텍터 : SED, BSED, EDS
- EDS : BRUKER (Model : X-flash4010, Resolution : 125eV, SDD type)
- BSD : YAG